Zuverlässigkeitsanalysen im Bereich hochkomplexer Leiterplatten
Online Mini-Vortrag: FED Regionalgruppe Stuttgart "kurz & knackig" - Teil 5 am 15.07.2020
Begonnen wird diese Online-Session mit einer kurzen Einführung, was das Thema Zuverlässigkeit im Zusammenhang mit Leiterplatten bedeutet und wieso auch optimal gefertigte Leiterplatten irgendwann ausfallen können. Anschließend werden die wichtigsten Untersuchungsmethoden TWT und IST erläutert und ihre Vor- und Nachteile aufgezeigt. Im nächsten Schritt wird erläutert, wie Daten von Zuverlässigkeitsanalysen vernünftig dargestellt werden sollten, um möglichst schnell die gewünschten Informationen zu erhalten und verschiedene Testreihen miteinander vergleichen zu können.
Abschließend werden die wichtigsten Einflussfaktoren für die Zuverlässigkeit von Leiterplatten dargelegt.
