Qualifizierung von Crimps und Einpressverbindungen
Bibliothek des Wissens Band 14
Anlässlich einer Vortragsveranstaltung des FED referierte Dr. Thomas Ahrens zum Thema „Heute mal nicht Löten“ und thematisierte dabei Crimp- und Einpressverbindungen. Beide Verbindungsverfahren haben sich seit über 3 Jahrzehnten erfolgreich in der Telekommunikation sowie der Datentechnik etabliert und bewährt.
Heute gibt es kaum noch einen Bereich in der Elektronikbranche, wo diese Verfahren nicht Einzug gehalten haben. Das große Interesse an diesem Vortrag veranlasste Dr. Thomas Ahrens und den FED tiefer in die Thematik einzusteigen. Das Ergebnis ist der vorliegende Band 14 der Bibliothek des Wissens. In ihm werden Crimpund Einpressverbindungen mit Weichlötstellen verglichen. Dabei galt es, die Anforderungen, Vorteile aber auch die Risiken der Verfahren zu beschreiben.
Normierte Prüfungen geben Sicherheit, vorausgesetzt, die Ergebnisse werden richtig bewertet. Im Kapitel „Richtig bewerten, kritische Zonen“ wird u. a. beschrieben, worauf es bei der Widerstandsmessung ankommt, um Fehlbewertungen zu vermeiden. Schlussendlich lernt der Leser die „Slow-Motion-Prüfung“ kennen, ein Muss, wenn es um Aussagen zur Zuverlässigkeit von Crimpverbindungen geht.
Mitautoren: Jörg Bornemann, Diana Breuer, David Dudek, Johann Gai, Michael Jezierski, Jörg Kowol, Andrea Lemke, Johanna Rubarth, Anne Schulte Döinghaus
Das Dokument ist für Mitglieder kostenfrei herunterladbar (siehe PDF unten).
