Neues Prüfverfahren vermeidet „Fake Tests“ und garantiert die Qualität von Testprogrammen
Das Ziel des In-Circuit Tests ist das Vermeiden von Produktfehlern und die Gewährleistung der Produktqualität. Allerdings können während des Debuggens Bauteile einen Fehler aufweisen. Falls nur eine Komponente mit einem schlechten Testparameter gemessen wurde, entsteht eine sog. „falsche Messung“. Andere Faktoren, wie beispielsweise Störungen, die durch Peripherie-Geräte verursacht werden (z.B. Kabelverbindungen), können auch zu „Fake Tests“ führen, sodass die Testqualität nicht länger gewährleistet werden kann.
In dieser Präsentation wird darauf eingegangen, wie ein neues Verfahren dafür sorgt, dass ein sehr hohes Qualitätsniveau erreicht und gehalten wird. Es wird erläutert wie „Fake Tests“ vermieden und die Qualität von Testprogrammen garantiert werden können und wie man Komponentenwerte nochmals verifiziert und auch die Werte der Einflussfaktoren automatisch überprüft. Höchste Qualität zu garantieren bedeutet die Überprüfung des Testprogramms selbst, nur dann kann man wirklich von echter Qualität sprechen.
Hans Baka
Geschäftsführer
Digitaltest GmbH
Hans Baka ist seit 1997 Geschäftsführer der Digitaltest GmbH. Seit 1994 war er Sales Manager bei Digitaltest und hat von 1989 bis 1993 neben Optischen Inspektionssystemen auch schon Testsysteme der Firma Digitaltest beim Vertriebspartner TECS Prüftechnik vertrieben. Seine Kariere begann nach einer Ausbildung zum Funkelektroniker bei Saba in Villingen-Schwenningen und einem anschließenden Techniker Studium. In dieser Zeit war er in der IR-Remote Entwicklung von Saba tätig, bevor er sich 1982 als geschäftsführender Gesellschafter bei der LayCon GmbH einbrachte. LayCon war einer der ersten Dienstleiter auf dem Gebiet der CAD Leiterplattenlayouts. Von 1986 bis 1988 leitete er die Hardwareentwicklung bei Stephan Elektronik.
