Automatische Prozessoptimierung in der SMT-Linie durch Expertensysteme
Automatische Prozess Optimierung durch Experten-Systeme
Lernen Sie die Vorteile von selbstlernenden Expertensystemen kennen: • Automatisierte Optimierung der Prozesse in der SMT-Linie • Starke Reduzierung der Bedienereingriffe • Höherer Durchsatz und Leistung der Produktionslinie • Reduzierung der Reparatur- & Setupkosten
Wer sich zu „Industrie 4.0 und Smart Factory“ informiert, wird immer wieder erkennen, dass sich die Fabrik der Zukunft autonom, also ohne Assists durch Anwendereingriffe, kontrolliert, steuert und optimiert. Möglich wird dies durch selbstlernende Expertensysteme.
Anhand der ASM ProcessExpert Prozesslösungen wird im Vortrag gezeigt, wie solche selbstlernenden Expertensysteme in der Praxis eingesetzt werden können und funktionieren. Wir beschäftigen uns zum einen mit der autonomen Optimierung von Druckprozessen vor der Bestückung. Das Ziel: Vermeidung von zeit- und kostenintensiven Drucktests direkt an der Linie und drastische Reduzierung von Bedienereingriffen an Drucker und SPI sowie Eliminierung von Druckfehlern und damit die Steigerung von Produktivität und Durchsatz. Zum anderen gehen wir auf die Möglichkeiten der Prozess-Optimierung durch Expertenlösungen während des Bestückprozesses ein. Hier zählt für den Elektronikfertiger ganz sicher die Optimierung der Bestückqualität durch Minimierung von Pick-Up Fehlern, und damit die Verbesserung des Durchsatzes und der optimierte Bedienereinsatz. Denn das Abstellen der Fehler durch „Versuch & Irrtum“ kosten Prozesszeit.
Es wird gezeigt, wie diese Zeiten minimiert werden können. Grundlage ist hier die moderne Expertensystem-Software von ASM ProcessExpert, die riesige Datenmengen nach vielen Faktoren analysiert, daraus Trends erkennt und die jeweils Wichtigsten auf den Prozess wirkenden Einflussfaktoren zuverlässig bestimmen kann. Der besondere Vorteil: Diese Software lernt aus jedem Prozess, 24 Stunden am Tag, 7 Tage die Woche und 365 Tage im Jahr. Und Sie vergisst nie das geringste Detail.
