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FED-70-23 Papierversion
Vollständige Fehlerabdeckung durch Kombination verschiedener Testverfahren
47 Seiten A4
Vollständige Fehlerabdeckung durch Kombination verschiedender Testverfahren (ICT, MFT, AOI, AXI...) - unter besonderer Berücksichtigung des Boundary Scan.
3 Workshop- und Vortragsmanuskripte, Übersichtsdarstellung der Verfahrens-Kombinationsmöglic hkeiten, ausführliche Darstellung des Boundary Scan