Testverfahren für elektronische Baugruppen
Das Seminar gewährt dem Publikum einen Einblick in die Welt des elektronischen Baugruppentests. Es beinhaltet die technische Erläuterung der gängigen Testverfahren und eine Vorstellung der auf dem Markt üblichen Kontaktierungsmethoden. Anhand von diversen Praxisbeispielen werden dem Teilnehmer die technischen Möglichkeiten der einzelnen Testverfahren erläutert.
Neben den technischen Details wird in diesem Seminar auch der wirtschaftliche Aspekt des Testens betrachtet. Wie können Testverfahren sinnvoll kombiniert werden, um Kosten zu sparen? Auf welche Details muss schon während der Baugruppenentwicklung geachtet werden, damit später Kosten bei der Prüfmittelentwicklung reduziert werden können? Was sind die Preistreiber bei der Testerstellung? Ab welchem Schritt in der Entwicklungsphase macht die Testkonzepterstellung Sinn?
Themen
Warum testen?
- verschiedene Perspektiven (lnverkehrbringer, Produzent, Normen)
- Ausfallwahrscheinlichkeiten einer elektronischen Baugruppe
Einführung in die gängigen Testverfahren zum Test von elektronischen Baugruppen:
- Automatische Optische lnspektion (AOl)
- ln Circuit Test (lCT)
- Flying Probe Test (FPT)
- Funktionstest (FKT)
- Boundary Scan Test (BST)
- High Voltage Test (HVT) / Schutzleitertest (PE Test)
- Klimakammertestverfahren (HASS, HALT)
Erläuterung gängiger Kontaktierungstechniken
- genereller Aufbau von Nadelbettadaptern (Vakuum und mechanische Testadapter)
- Standard Kontaktierung über Nadeln
- Fine Pitch Kontaktierung
- Kontaktierung von Steckverbindern
- HF Testadapter am Beispiel eines lngun Testadapters
Design for Test Regeln
- generelle Design Rules
- lCT/FPT Design Rules
- BST Design Rules
- FKT Design Rules
wirtschaftliche Testkonzepte
- sinnvolle Kombinierung von Testverfahren
- Testabdeckung vs. Kosten
- Einmalkosten für die Prüfmittelerstellung vs. laufende Kosten für die Testdurchführung
Einblicke in die Testentwicklung
- generelles Vorgehen beim Testadapterdesign
- Testsoftwareentwicklung
- benötigte Daten
Zielgruppe
- Entwickler für elektronische Baugruppen
- angehende Testentwickler
- Produktionstechniker (Elektronikproduktion)
Referent
Christian Albinger, geboren 1983, lebt in der Nähe von Augsburg. Nach seinem erfolgreichen Abschluss des Diplomstudiengangs Elektrotechnik (Fachrichtung lnformations und Kommunikationstechnik) an der Fachhochschule Augsburg startete er seine berufliche Laufbahn als Testentwickler bei BMK in Augsburg, einem der in Deutschland führenden EMS Unternehmen. Seine Tätigkeiten umfassten die Soft und Hardwareentwicklung von Funktions und Boundary Scan Testsystemen, sowie die Leitung von größeren Testprojekten. Anfang 2013 hat Herr Albinger die Verantwortung für die Abteilung Testentwicklung bei BMK übernommen.
