FED Talks | Qualität neu gedacht: Wie Siemens mit Causal AI die 5-Sigma-Grenze durchbrach

In der Elektronikfertigung entscheiden Qualität und Automatisierung über Wettbewerbsfähigkeit – doch herkömmliche Analyse-Tools liefern oft nur Symptome statt Ursachen und scheitern an fragmentierten Daten. Der Vortrag zeigt anhand eines konkreten Use Cases bei Siemens, wie der Einsatz von Causal AI einen echten Paradigmenwechsel ermöglichte: Durch die ganzheitliche Verknüpfung von Designparametern, Prozessdaten und Inspektionsergebnissen konnten kausale Fehlerursachen automatisch identifiziert und eliminiert werden. Das Ergebnis: Eine signifikante Reduktion der Fehlerquote und erstmals die Unterschreitung der 5-Sigma-Grenze in der PCBA-Produktion. Die Präsentation liefert praxisnahe Einblicke in die Implementierung dieser Technologie, beleuchtet zentrale Erfolgsfaktoren sowie typische Herausforderungen und teilt wertvolle „Lessons Learned” aus dem realen Einsatz.

Ein Event aus der Reihe FED Talks 
Dauer: 1 Stunde

• Das Online-Event wird aufgezeichnet
• Zur Durchführung des Online-Events verwenden wir "Zoom Webinar". Hinweise zur Datenverarbeitung finden Sie insoweit unter www.fed.de/datenschutz-webinare/
• Kosten: 0,- €