Online-Vortrag zum Thema "Zuverlässigkeitsanalysen im Bereich hochkomplexer Leiterplatten"

Folgende Fragen werden beantwortet: Was bedeutet Zuverlässigkeit im Zusammenhang mit Leiterplatten? Wie sind die Unterschiede und Ergebnisse von Temperatur Wechsel Tests (TWT) im Vergleich zum Interconnect Stress Test (IST) zu bewerten? Referent Dr.-Ing. David Kurzmanowski, Würth Elektronik, stellt die Ergebnisse seiner Untersuchungen vor.

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