Online-Vortrag zum Thema "Zuverlässigkeitsanalysen im Bereich hochkomplexer Leiterplatten"
Am 15. Juli bietet die Regionalgruppe Stuttgart allen Interessierten einen kostenlosen Online-Vortrag aus der Reihe "Kurz & knackig" an - diesmal zum Thema „Zuverlässigkeitsanalysen im Bereich hochkomplexer Leiterplatten“.
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Folgende Fragen werden beantwortet: Was bedeutet Zuverlässigkeit im Zusammenhang mit Leiterplatten? Wie sind die Unterschiede und Ergebnisse von Temperatur Wechsel Tests (TWT) im Vergleich zum Interconnect Stress Test (IST) zu bewerten? Referent Dr.-Ing. David Kurzmanowski, Würth Elektronik, stellt die Ergebnisse seiner Untersuchungen vor.
Hier geht's zur Anmeldung (GoToWebinar).