FTIR-Spektroskopie: Neuartige Wege zur Erkennung gefälschter elektronischer Bauteile
Dieser Vortrag präsentiert innovative Ansätze zur Erkennung gefälschter elektronischer Bauteile mittels Fourier-Transformierter Infrarotspektroskopie (FTIR), einer Methode, die in anderen Analytikdisziplinen, wie der Kriminologie, bereits erfolgreich für die Identifizierung organischer Rückstände genutzt wird. Die FTIR-Spektroskopie nutzt das einzigartige Absorptionsspektrum chemischer Verbindungen zur Identifikation und bietet damit einen direkten Nachweis der Authentizität von Bauteilen. Durch den Vergleich der Spektren von Standardvergussmassen und potenziell manipulierten Bauteilen können selbst fortschrittliche Fälschungen, bei denen lösemittelbeständige Beschichtungen verwendet wurden, zuverlässig identifiziert werden. Der Vortrag erörtert die Herausforderungen bei der Erkennung gefälschter Bauteile, die Grundlagen der FTIR-Spektroskopie und deren Anwendung in der Elektronikindustrie. Des Weiteren wird aufgezeigt, wie diese Methode dazu beitragen kann, die Integrität und Sicherheit elektronischer Komponenten zu gewährleisten und die Elektronikindustrie vor den schädlichen Auswirkungen von Bauteilfälschungen zu schützen.
