FED-Regionalgruppe Stuttgart - "kurz & knackig" - Teil 17

09.06.2021, 16:00 Uhr Online-Vortrag

Methoden zur sicheren Erkennung gefälschter elektronischer Bauelemente

Stuttgart
Stuttgart


20 minütige Online-Session mit anschließenden 10 Frageminuten


Regionalgruppenleitung: Michael Matthes, Roland Schönholz

 

 

Thema:               Methoden zur sicheren Erkennung gefälschter elektronischer Bauelemente
Referent:            Prof. Dr.-Ing. Jürgen Wilde - Professur für Aufbau- und Verbindungstechnik, IMTEK Institut für                                         Mikrosystemtechnik, Albert-Ludwigs-Universität Freiburg
Dauer:                20 Minuten + Diskussion

Im Rahmen des IGF-Vorhabens ETRACE wurde eine Vielzahl von Merkmalen als Prüfkriterien zur Originalitätsprüfung (Authentifikation) von elektronischer Hardware identifiziert und den vier relevanten Integrationsebenen der Elektronik zugeordnet. Zu den Merkmalen wurden Prüfverfahren gefunden, und bewertet, wobei der Schwerpunkt auf einer hohen Erkennungssicherheit lag. Im Hinblick auf Originalitätsprüfungen sind statistisch abgesicherte, einfache Methoden wie Wiegen oder geometrisch Vermessen sehr wirkungsvoll, da sich hierbei Abweichungen zeigen, die weit über den Merkmalsstreuungen liegen.

Die quantitative Auswertung von Röntgenbildern kann auch bei einfacher 2D-Durchleuchtung eine sehr sichere Überprüfung gewährleisten. Insbesondere das Vermessen und Klassifizieren von zweidimensionalen Röntgenbildern ist eine kostengünstige und wirkungsvolle Detektionsmethode.

Spektroskopische Methoden können die Materialoriginalität sicherstellen, sind jedoch präparativ aufwändig und kapitalintensiv, wobei die etablierte FTIR Referenzmethode ist. Im Hinblick auf die Bestimmung von absoluten Materialzusammen­setzungen sind Röntgenmethoden wie EDX und XRF hoch genau und vor allem für anorganische Komponenten sehr gut geeignet. Die Treffsicherheit und Wahrscheinlichkeit der Originalitätsprüfung kann durch Kombination mehrerer einfacher Verfahren wie Wiegen und Längenmessung, also Redundanz, deutlich erhöht werden. Zur Identifikation zeigen optische und röntgenoptische Verfahren, die auf indirekte, im Herstellprozess steuerbare Merkmale, wie Oberflächenrauheit oder Poren, abzielen, ein hohes Potential zur Identifikation von Individuen elektronischer Bauelemente.

 

Hinweise für alle Teilnehmer:

  • Diese Online-Session wird aufgezeichnet.
  • Kosten: 0,-€
  • Zur Durchführung des Online-Vortrags verwenden wir "GoToWebinar". Hinweise zur Datenverarbeitung finden Sie insoweit unter www.fed.de/datenschutz-webinare/
  • Wer ein interessantes Thema für einen 20 minütigen Vortrag hat, den er in diesem Rahmen vorstellen möchte, kann sich an Michael Matthes Michael.Matthes@wittenstein.de oder Roland Schönholz roland.schoenholz@conselix.de wenden.
  • Weiterhin dürfen auch Themenwünsche eingereicht werden.