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19.-21. September 2013 in Bremen

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Zugelassener Bildungsträger nach AZWV

Grundlagen der statistischen Methoden zur Bewertung der technischen Zuverlässigkeit

26.-27.06.2013, Bamberg
28.-29.10.2013, Berlin

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Einführung

Die Zuverlässigkeit ist ein wesentliches Qualitätsmerkmal technischer Produkte. Sie wird vom Kunden direkt gefordert oder indirekt erwartet. Sie gewährleistet, dass während der geplanten Nutzungsdauer, der sog. Missionszeit, die spezifischen und zugesagten Produkteigenschaften unter den gegebenen Einsatzbedingungen erhalten bleiben.
Maßnahmen zur Erreichung und Sicherung der Zuverlässigkeit sollten im Rahmen der Produktentwicklung wie andere technische Disziplinen geplant und gelenkt werden.

Sie dienen u. a. der Schwachstellenanalyse, beeinflussen das Leistungsverhalten des Produktes, die Lebenszykluskosten und sind auch Grundlage für erforderliche Risikoanalysen.

Kenngrößen der Zuverlässigkeit unterstützen die planmäßige Instandhaltung und die Optimierung der Ersatzteilbevorratung während der gesamten Nutzungsdauer des Produkts.

Zum Thema Zuverlässigkeit existiert eine vielfältige Literatur mit speziellen Verfahren der mathematischen Statistik und Wahrscheinlichkeitsrechnung, die jedoch in ihrer Anwendung und direkten Umsetzung an den Praktiker relativ hohe Anforderungen stellen.

Das angebotene Seminar hat das Ziel, praktisch erprobte und anwendbare Methoden, Verfahren und Tools zur theoretischen und zur experimentellen Ermittlung von Zuverlässigkeitskennwerten vorzustellen und zu vermitteln. Es stützt sich hauptsächlich auf das Normenwerk des TC 56 „Zuverlässigkeit“ der IEC und auf einschlägige praxisnahe Literatur.

Die Zuverlässigkeitsberechnungen für elektronische und elektromechanische Baugruppen beziehen sich ausschließlich auf die WEIBULL– / Exponentialverteilung, mit der hinreichend genau das Ausfallverhalten während der Frühausfallphase, der Phase der Normal- oder Zufallsausfälle und der Phase der Verschleiß- oder Spätausfälle beschrieben wird. Für Systemanalysen werden BOOLE´sche Modelle angewendet. Die verwendeten Berechnungsverfahren berücksichtigen die auf die Produkte einwirkenden Umgebungsbedingungen (Temperatur, mech./dyn. Belastung) und Beanspruchungen (Spannung, Strom, Schalthäufigkeit) sowie die Einsatzbedingungen bei Wechsellast.

Mit dem Seminar soll den Teilnehmern vermittelt werden, eigenständig Zuverlässigkeitsberechnungen für elektronische Produkte und Systeme durchzuführen.

Zielgruppe

Das Seminar richtet sich in erster Linie an Ingenieure und Techniker, die in der Entwicklung von Geräten und Systemen der Elektrotechnik / Elektronik tätig sind; weiterhin auch informativ an solche Mitarbeiter, die diesbezüglich mit der Planung, Fertigung, Anwendung und Instandhaltung befasst sind.

Spezielle Kenntnisse der mathematischen Statistik und der Wahrscheinlichkeitslehre werden nicht vorausgesetzt. Die Teilnehmer sollten jedoch auf Grund ihrer Ausbildung in der Lage sein, mit bekannten mathematischen Methoden und Verfahren umzugehen und die dargestellten und verwendeten Formeln nachzuvollziehen.

Seminarthemen

Teil 1

  • Zielstellung des Seminars
  • Zuverlässigkeitsbegriff
  • Produktzuverlässigkeit
  • Quellen und Historie der Zuverlässigkeit
  • Elemente des Zuverlässigkeitsmanagement - Zuverlässigkeitsbeziehungen
  • Prozessschritte zur Beherrschung der Zuverlässigkeit
  • Phasen des Produkt – Lebenszyklus, Lebenszykluskosten
  • Softwareaspekte zur Zuverlässigkeit
  • Begriffe zur Qualität und Zuverlässigkeit - Zuverlässigkeitsparameter
  • Lebensdauerverteilungen – WEIBULL- / Exponential- Vereilung
  • Zuverlässigkeitskenngröße „Ausfallrate “
  • Beanspruchungsmodelle zur Umrechnung der Ausfallraten
    - Umrechnung gem. DIN IEC 61709 / SN 29500 ff
    - Umrechnung gem. RIAC-HDBK-217Plus
  • Allgemeine und spezielle Beanspruchungsmodelle
  • Beanspruchungsfaktoren für die Abhängigkeit von Ausfallraten
  • Beispiel für Ausfallratenangaben
  • Verfahren mit dem Zuverlässigkeitsblockdiagramm und BOOLE´sche Verfahren
  • Weitere Verfahren zur Analyse der Zuverlässigkeit von Systemen, u. a.Fehlzustandsbaum-, Ereignisbaum-Analyse, Markoff-Verfahren, Petrinetz-Modellierung

Teil 2

  • Berechnungsbeispiele zur Zuverlässigkeitsberechnung
  • Verfahren zur Bestimmung der Zuverlässigkeit
  • Experimentelle Ermittlung der Zuverlässigkeit von Komponenten durch Analyse von Ausfalldaten aus Labortest- oder Felddaten
  • Methoden zur Bestimmung der Paramter der WEIBULL- / Exponential –Verteilung
  • Verfahren für beschleunigte Produktprüfungen – Zeitraffende Prüfungen u. a. durch thermische Beanspruchung
  • Methodik zur Berechnung der Ersatzteilbevorratung für Komponenten und Baugruppen
  • Erfolgskontrolle
  • Ausgabe der Teilnehmerzertifikate
  • Abschlussdiskussion

Schulungszeiten

1.Tag: 09:00 - 17:00 Uhr
2.Tag: 09:00 - 15:00 Uhr

Termine und Orte

26.-27.06.2013 Bamberg

WELCOME KONGRESSHOTEL BAMBERG
Mußstraße 7
96047 Bamberg
Tel.: 0951/7000-0

Übernachtungen

WIr bitten Sie, Ihre Übernachtungen selbst zu buchen. Es wurde ein Abrufkontingent eingerichtet - Stichwort "FED-Seminar - VA 3782".

1 Einzelzimmer mit Frühstück zu EURO 108,-/Nacht/Zimmer. Dieses Kontingent steht bis zum 29.05.2013 zur Verfügung. Telefon: 0951/7000-0.
 

28.-29.10.2013 Berlin

Best Western Hotel President
An der Urania 16 - 18
10787 Berlin
Tel.: 030/2190 3-0

Übernachtungen

Wir bitten Sie, Ihre Übernachtungen selbst zu buchen. Es wurde ein Abrufkontingent eingerichtet - Stichwort "FED".

1 Einzelzimmer mit Frühstück zu EURO 83,00/Zimmer/Nacht. Dieses Kontingent steht bis zum 30. 09. 2013 zur Verfügung, Telefon 030/2190 3-0.

Bedingungen / Teilnahmegebühren

Teilnahmegebühren

FED-Mitglieder:   495,- EUR
weitere Teilnehmer desselben Unternehmens  410,- EUR

Nichtmitglieder:  705,- EUR
weitere Teilnehmer desselben Unternehmens 565,- EUR


Enthaltene Leistungen

ausführliche Schulungsunterlagen, ein Teilnahmezertifikat, Mittagessen und alkoholfreie Pausengetränke.


Die Schulungen werden in Deutsch gehalten.

Nach Eingang Ihrer Anmeldung erhalten Sie eine Rechnung als Teilnahmebestätigung. Der Kostenbeitrag ist vor Veranstaltungsbeginn an den FED zu überweisen. Bitte zahlen Sie erst nach Erhalt der Rechnung. Bei Stornierung der Anmeldung (nur schriftlich bis eine Woche vor Kursbeginn - Poststempel) wird eine Verwaltungsgebühr in Höhe von 10 % des Gesamtrechnungsbetrages (Teilnahmegebühr und Verpflegung) erhoben. Danach ist in jedem Fall der volle Betrag zu zahlen. Bei Nichterscheinen oder verspäteter Abmeldung besteht kein Anspruch auf Rückerstattung der Teilnahmegebühr. Der Veranstalter behält sich das Recht vor, den Kurstermin auch nach erfolgter Anmeldebestätigung bei Rückerstattung der Gebühren abzusagen.

Es gelten im Übrigen die Allgemeinen Geschäftsbedingungen des FED.

Ihre Referenten

Dipl.-Ing. Wolfgang Muth

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Wolfgang Muth schloss sein Studium an der Humboldt Universität zu Berlin im Jahre 1974 mit einer Diplomarbeit zur "Zuverlässigkeit elektronischer Systeme" ab. Nach langjähriger Industrietätigkeit ist er seit 1992 freiberuflicher Unternehmensberater zur Entwicklung und Implementierung von Qualitätsmanagementsystemen in KMU. Weiterhin führt er im Auftrag von Unternehmen Zuverlässigkeitsanalysen und - berechnungen sowie in Zusammenarbeit mit Prüflaboratorien Zuverlässigkeitsprüfungen für elektronische Produkte und Systeme durch. Er war Lehrbeauftragter für Technische Statistik / Zuverlässigkeit an mehreren Fachhochschulen und ist langjähriger Mitarbeiter in unterschiedlichen Fachgremien, u.a. im IEC TC 56 "Zuverlässigkeit" des VDE (DKE) K132.

Ihre Ansprechpartner

Antje brandt Antje Brandt
Tel. +49 30 834 90 59
E-Mail senden

Sandra Köckeritz Sandra Köckeritz
Tel. +49 30 834 90 59
E-Mail senden
 

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